SIL 设计包
SIL 功能安全设计包
安全完整性等级（SIL）是在1998年颁布的IEC61508功能安全标准由IEC首次提出，是由每小时发生的危险失效概率来区分，划分4个等级：SIL1,SIL2,SIL3,SIL4， SIL4是其中安全完整性最高等级。安全完整性等级越高，执行所要求的安全功能的概率也越高，换而言之就是出现失效的概率越低。
对于产品需要过SIL2/SIL3认证的客户，每个STM32 MCU系列都提供一个独立的STM32 SIL功能安全设计包，其中包括：安全手册和自检库。
结合STM32提供的硬件功能，利用安全手册和自检库，用户就可以继续开发满足安全认证要求的自己的代码。
关于自检库，这里需要说明的是，ST提供的SIL自检库只是实现功能安全所需的安全机制的子集。用户可以将自检库压缩包中的库文件添加到实际工程中，该自检库已经包括了部分对CPU,FLASH和SRAM这些与具体应用无关的检测。然后用户还要再根据实际工程的需要，参考安全手册中列出的安全检测机制，自己通过代码实现其他的检测。比如，如果用到了中断或者I2C，而且跟安全功能相关，就要根据安全手册中这两部分的内容，添加检测代码。
STM32 SIL功能安全设计包的目的，就是帮助STM32的客户在开发需要获得IEC 61508 工业安全标准认证的产品的过程中，降低项目成本和复杂度，简化认证评估过程，缩短认证需要的时间。
STM32 SIL功能安全设计包的安全文档，有两大类：一类是前面提到过的安全手册，里面详细列出了在硬件层面，软件层面和应用层面可以采取的安全机制，来指导STM32用户设计出达到符合IEC61508标准的安全完整性等级的产品。每个STM32系列对应一份独立的安全手册，可以从ST官网（www.st.com/x-cube-stl）免费下载。还有一类安全文档，包括FMEA和FMEDA。这两个文档是需要用户签NDA后才能拿到的。FMEA里列出了MCU失效模式和相关可以采取的检测方法。FMEDA里列出整个MCU和各个基本功能模块的失效率数据，它里面提供的失效数据与具体MCU的型号对应。在FMEDA文档中列出了适用的MCU型号，以及计算的条件假设。
SIL功能安全设计包中的X-CUBE-STL 自检库，检测了STM32内核的关键安全部件（CPU+SRAM+Flash）的随机硬件失效。该部分检测与应用无关，可以用在任何终端用户应用中。这里再强调一下，自检库只是产品获得认证最终需要实现的全部安全机制的子集，客户还需要根据实际情况，参考安全手册的说明自行开发其他部分的代码。并且该自检库是通过库文件形式提供，独立于编译器，这意味着你可以选择你想要的编译环境。X-CUBE-STL符合IEC 61508 SIL3 标准，所声称达到的诊断覆盖率都经过了ST独有的故障注入机制验证，并已经取得TÜV 莱茵认证，证书可以在ST官网下载。随自检库一起还提供了STL安全手册和用户指南，给用户提供在具体应用中使用该STL库的说明。该X-CUBE-STL 自检库也需要签NDA才能获得。
单颗STM32最高可以满足SIL2的要求，要达到SIL3系统必须是两颗STM32的1OO2架构，保证当一颗MCU出现故障后，系统还可以正常工作。
STM32系列基本都可以提供对应的安全手册直接下载和认证证书查看，例如 单核MCU的安全手册 及 TÜV Rheinland 单核产品认认证书，双核MCU的安全手册 及 TÜV Rheinland 双核产品认证书，STM32MP1系列的安全手册
SIL功能安全相关的资料列表：
以上资料除了前两个文档以外，其他的都需要联系ST销售人员申请，签署NDA才能获得。
- 安全手册，描述了如何在安全相关系统的背景下使用微控制器，并说明了为达到目标安全完整性等级，可以实施的安全机制，以及如何去符合其他的安全标准的说明
- 自检库安全手册，包含了用户在安全相关系统里使用STL自检库的相关说明
- 自检库用户手册，介绍自检库的结构及API使用等
- FMEA，提供针对微控制器系列的失效模式与影响分析
- FMEDA，提供对具体MCU型号进行的，在已经实施给定安全机制的条件下得到的失效率数据
