文档类型:英文 版本:1.6 下载次数:2945 更新日期:2017-07-12
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AN1181_静电放电敏感度测量
本文档适用于STM8和STM32系列微控制器,介绍了用于确定微控制器器件对 ESD 损坏的敏感性的过程。
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